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    发表时间:2019-11-12 09:22作者:武汉铄思百检测技术有限公司来源:铄思百检测

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    本标准对于提交表面化学分析样品的人们在样品处理和把样品递送给分析人员方面提供指导。尽管主要是为俄歇电子能谱(AES)、X射线光电子能谱(XPS)和二次离子质谱(SIMS)而写,但这些方法也能用于其他表面敏感的分析测量。AES、XPS和SIMS通常对几纳米(nm)厚度的表面层敏感。这样的薄层会由于不正确的样品处理而受到严重影响[]。样品的正确处理和制备对于分析是极为重要的,不正确的处理会导致表面组成改变和数据不可信。本标准是供给样品提供者或表面分析设备的购买者以及表面分析人员使用的。最佳处理方法取决于特定的样品和所需的信息,并且本标准为每一种样品类型提供了说明性的例子,这些样品类型是样品所有者和表面分析人员通常遇到的。本标准建议样品供应者就有关样品的来历、需要解决的具体问题或所需要的信息,以及任何特殊的样品制备、所需的处理或运送方法,尽可能快地和表面分析人员商量。

    表面化学分析分析前样品的处理;范围:本标准规定了表面化学分析样品的处理和存放容器的要求。本标准适用于表面化学分析设备的用户了解表面化学分析技术的特殊样品处理要求,特别是俄歇电子能谱(AES)、二次离子质谱(SIMS)和X射线光电子能谱(XPS或ESCA)。本标准也适用于对表面组成敏感的其他分析技术,如TXRF。对于特定的实例,特定的样品,需要更加注意。

    发布时间:2012-11-05   实施时间:2013-06-01

    颁发部门:国家质量监督检验检疫总局


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